Sollen mit der Scanfunktion des TECHKON SpectroDens Linearisierungs- oder Profilierungsdiagramme gemessen werden, kann es unter erschwerten Bedingungen vorkommen, dass das erste oder letzte Feld einer Scanreihe mit einer unterschiedlichen Anzahl von Submessungen eingelesen wird. Dies kann im Extremfall zu Ungenauigkeiten in den Chartmessungen führen. Auch eine ungleichmäßige Bewegung des Gerätes über die Vorlage kann zu Problemen bei der genauen Erkennung der Messfelder führen. Die Folge können Qualitätseinschränkungen in den aus solchen Messergebnissen generierten Linearisierungen oder Profilierungen sein.